電子顕微鏡
目次
電子顕微鏡の種類
透過電子顕微鏡（TEM）、走査電子顕微鏡（SEM）、走査透過電子顕微鏡（STEM）、クライオ電子顕微鏡（Cryo-EM）について紹介します。
透過電子顕微鏡（TEM）
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原理：電子ビームをサンプルを通過させ、透過した電子を捉えて像を作ります。
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用途：細胞の内部構造の観察、タンパク質の立体構造の決定、ウイルスの構造決定など。
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特徴：非常に高い分解能を持ちますが、サンプルの準備が複雑です。
走査電子顕微鏡（SEM）
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原理：電子ビームをサンプルの表面に照射し、反射または二次電子を捉えて像を作ります。
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用途：サンプルの表面の形状やテクスチャの詳細な観察など。
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特徴：表面の立体的な画像を提供し、より直感的な観察が可能です。
走査透過電子顕微鏡（STEM）
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原理：TEMとSEMの技術を組み合わせ、透過および反射電子の両方を用いて像を作ります。
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用途：材料の微細構造の分析や、原子レベルでの成分分析など。
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特徴：高い分解能と材料の成分分析能力を兼ね備えています。
クライオ電子顕微鏡（Cryo-EM）
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原理：試料を極低温に凍結し、その状態で電子ビームで走査する。
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用途：タンパク質の立体構造の決定、ウイルスの構造決定など。
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特徴：高い解像度、非結晶性サンプルの観察、生体分子の自然な状態の観察。
特徴と利点
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高分解能： 電子顕微鏡は、光顕微鏡よりもはるかに小さい構造を可視化できます。
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多様な分析： 物質の微細構造や化学組成など、多様な情報を得ることができます。
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幅広い応用範囲： 生物学、材料科学、工業など、多岐にわたる分野での応用が可能です。